RIGAKU日本理学|北崎国际贸易（北京）有限公司

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RIGAKU日本理学台式荧光X射线分析仪这是一种使用封闭式 X 射线管的台式全内反射荧光 X 射线分析仪。采用全内反射荧光X射线光谱仪，可以高灵敏度地对固体样品表面进行元素分析。虽然是台式，但配备了全自动光轴调整系统，无论基材如何，都可以进行稳定的分析。另外，由于可以改变X射线的入射角度，因此不仅可以获得表面附近的元素信息，还可以获得深度方向的元素信息。查看详情
RIGAKU日本理学反射荧光X射线分析仪这是一种采用全内反射荧光X射线法，以非破坏性、非接触方式高灵敏度分析晶圆表面污染情况的装置。兼容300mm和200mm晶圆，可以分析从轻元素Na到重元素U的极痕量污染元素。采用载物台驱动系统，消除晶圆衍射X射线的干扰。查看详情
RIGAKU日本理学反射荧光X射线分析仪这是一种采用全内反射荧光X射线法，以非破坏性、非接触方式高灵敏度分析晶圆表面污染情况的装置。兼容300mm和200mm晶圆，可以分析从轻元素Na到重元素U的极痕量污染元素。查看详情
RIGAKU日本理学反射荧光X射线分析仪这是一种采用全内反射荧光X射线法，以非破坏性、非接触方式高灵敏度分析晶圆表面污染情况的装置。它与 ~200mm 晶圆兼容，可以分析从轻元素 Na 到重元素 U 的极痕量污染元素。采用载物台驱动系统，消除晶圆衍射X射线的干扰。查看详情
RIGAKU理学斜入射X射线CD测量工具 RIGAKU理学斜入射X射线CD测量工具XTRAIA CD-3010G,可以使用 GISAXS 和 X 射线反射（XRR）测量来测量 CD，以测量薄膜厚度、密度和粗糙度。兼容*大 300 毫米的晶圆查看详情
RIGAKU理学透射X射线CD测量工具 RIGAKU理学透射X射线CD测量工具XTRAIA CD-3200T,TSAXS 是一种用于 CD 测量的在线小角 X 射线散射方法。*大 300 mm 晶圆*先进的设备微形状（浅/深图案）测量设备可以对纳米结构进行无损测量，例如横截面轮廓、深度、形状和倾斜度。获取反映横截面形状的 X 射线衍射图像。查看详情
RIGAKU理学自动 X 射线单晶取向测量系统 RIGAKU理学自动 X 射线单晶取向测量系统 FSAS III,Si、Ge、GaAs、SiC、石英、LN、LT、蓝宝石、金红石、萤石和各种其他单晶材料的切割方向被准确地传达到线锯和其他切割机。切割后的方向测量也可以准确进行，而不受作员的影响。查看详情
RIGAKU理学自动晶圆晶面取向 X 射线系统 RIGAKU理学自动晶圆晶面取向 X 射线系统 FSAS II,该设备自动测量晶圆主表面的切割角度、OF 和缺口位置。查看详情