RIGAKU日本理学台式荧光X射线分析仪 NANOHUNTER II 北崎国际贸易（北京）有限公司

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产品名称：RIGAKU日本理学台式荧光X射线分析仪
产品型号：NANOHUNTER II
产品厂商：RIGAKU日本理学
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简单介绍：

这是一种使用封闭式 X 射线管的台式全内反射荧光 X 射线分析仪。采用全内反射荧光X射线光谱仪，可以高灵敏度地对固体样品表面进行元素分析。虽然是台式，但配备了全自动光轴调整系统，无论基材如何，都可以进行稳定的分析。另外，由于可以改变X射线的入射角度，因此不仅可以获得表面附近的元素信息，还可以获得深度方向的元素信息。

详情介绍：

高强度/高灵敏度测量
使用600W高功率X射线源、反射镜和大面积SDD可以进行高灵敏度测量。我们已实现有害元素 As、Se 和 Cd 的 ppb 级检测限。
可选择多种激发条件
在标准激发条件（Mo靶）下，可有效激发As、Pb等有害元素。
双结构多层膜允许使用高能激发条件（约30keV），使得可以使用光谱重叠较少的Cd、Ag等的K线区域作为测量线。
可变入射角机构实现角度分辨测量
通过使用任意改变入射角的机制，现在不仅可以获得表面附近的元素信息，还可以获得深度方向的元素信息。
用于薄膜深度分析的 GI-XRF

在固体表面分析领域，需要比表面略深入的分析（主要是薄膜和厚膜领域）。对于这种类型的分析，采用一种称为掠入射 X 射线荧光 (GI -XRF) 的方法，通过改变 X 射线源的入射角来激发地下元素。 NANOHUNTER II TXRF 光谱仪的可变入射角使得可以对深度剖面进行表面分析。 GI -XRF技术适用于纳米级研究

製品名	NANOHUNTER II
手法	全反射蛍光X線（TXRF）
用途	液体や固体表面の高感度超微量元素分析
テクノロジー	TXRFとGI-XRF
主要コンポーネント	600 W X線源、大面積検出器（SDD）
オプション	N₂ ガスまたはHeガス置換
制御(PC)	外部PC
本体寸法	697 (W) x 691 (H) x 597 (D) (mm)
質量	100 kg（本体）
電源要件	単相 100-240 V、15 A

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产品名称：RIGAKU日本理学 台式荧光X射线分析仪

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