光谱仪|北崎国际贸易（北京）有限公司

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RIGAKU理学全内反射 X 射线荧光光谱仪 RIGAKU理学全内反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 310Fab,采用转子式高功率 X 射线发生器和新设计的入射 X 射线单色器。过渡金属 LLD 10 采用直接 TXRF 测量方法8 原子/厘米2达到水平。在封闭 X 射线管测量时间的 1/3 内即可实现相同的精度，从而实现高通量。查看详情
RIGAKU理学全内反射X 射线荧光光谱仪 RIGAKU理学全内反射X 射线荧光光谱仪TXRF 3760,对晶圆表面的污染进行无损、非接触式和高灵敏度分析转子式高功率 X 射线发生器和新设计的入射 X 射线单色器过渡金属 LLD 10 采用直接 TXRF 测量方法8 原子/厘米2达到水平。在封闭 X 射线管测量时间的 1/3 内即可实现相同的精度，从而实现高通量查看详情
RIGAKU日本理学X 射线光谱仪WaferX 310 RIGAKU日本理学X 射线光谱仪WaferX 310 WD-XRF ,这是一种波长色散 X 射线荧光光谱仪（WD-XRF），可以无损、非接触地同时分析 300 mm 和 200 mm 晶圆上各种薄膜的厚度和成分查看详情
RIGAKU日本理学晶圆磁盘分析仪 RIGAKU日本理学晶圆磁盘分析仪3650,这是一种波长色散 X 射线荧光光谱仪（WD-XRF），可以以非破坏性、非接触的方式同时分析*大 ~200 mm 晶圆上各种薄膜的厚度和成分查看详情
RIGAKU理学分析溅射靶材成分光谱仪 RIGAKU理学分析溅射靶材成分光谱仪AZX400,将 Be~U 中的所有元素（包括 B、C、N 和 O）包含在一个单元中，这些元素是重要的半导体材料查看详情
RIGAKU日本理学 X 射线荧光光谱仪 RIGAKU日本理学 X 射线荧光光谱仪AZX400,将 Be~U 中的所有元素（包括 B、C、N 和 O）包含在一个单元中，这些元素是重要的半导体材料查看详情