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  • 产品名称:RIGAKU理学在线 HRXRD/XRR 测量工具

  • 产品型号:XTRAIA XD-3300
  • 产品厂商:RIGAKU日本理学
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简单介绍:
RIGAKU理学在线 HRXRD/XRR 测量工具XTRAIA XD-3300,是一款多用途 X 射线计量工具,可在大规模生产中以高通量对橡皮和图案化 300 mm 和 200 mm 晶圆上的单层和多层薄膜进行无损分析。测量结果包括 X 射线反射 (XRR) 的薄膜厚度、密度和粗糙度,以及高分辨率 XRD (HRXRD) 的外延膜厚度、成分、应变、晶格松弛和结晶度。
详情介绍:




XTRAIA XD-3300

在线 HRXRD/XRR 测量工具

用于毛毯和图案化晶圆的高分辨率 XRD 外延膜表征

XTRAIA XD-3300 是一款多用途 X 射线计量工具,可在大规模生产中以高通量对橡皮和图案化 300 mm 和 200 mm 晶圆上的单层和多层薄膜进行无损分析。

测量结果包括 X 射线反射 (XRR) 的薄膜厚度、密度和粗糙度,以及高分辨率 XRD (HRXRD) 的外延膜厚度、成分、应变、晶格松弛和结晶度。

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XTRAIA XD-3300

描述 XTRAIA XD-3300

它支持各种应用,包括在线 XRD/XRR 多层层压板、金属薄膜、压电薄膜、SiGe 和化合物半导体薄膜的厚度和成分分析。 您可以根据自己的应用选择*佳的设备配置。

XRD 和 XRR 分析可以通过内联实现自动化。

XTRAIA XD-3300 特点

用于高效处理的在线功能
载物台和测角仪,用于灵活的样品定位
利用光束尺寸低至 40 μm 的高分辨率 X 射线束
完全自动化,实现高效运营
兼容 200 mm 和 300 mm 晶圆
配备 2D 探测器,用于**数据收集
使用**分析软件支持**的数据解释

XTRAIA XD-3300 规格

技术 高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD)、X 射线反射 (XRR)
用于覆盖/图案外延薄膜的
双光束(线和 40 μm 微点)
图案识别
X 射线源 1:9 kW 旋转铜与阴极或 2.2 kW 铜封装管
2:用于测量图案化晶圆的 COLORS™ 混合铜束模块
主要组件 毯状和图案化晶圆计量
X 射线光学元件:多达 2 个光栅 Ge(400)×2、Ge(220)×2、Ge(220)×4
X 射线探测器:2D (HyPix-3000)
微光斑尺寸、模式识别、高强度和 χ 轴
高精度测角仪
特征 COLORS™ 混合铜离子模块,具有
高强度旋转反阴极和微点光束
选择 光栅、各种光学元件 GEM300
软件、E84/OHT 支持
本体尺寸 1656(宽) x 3689(深) x 2289(高) 毫米
测量结果 HRXRD、XRR、锁定曲线和倒数网格图 (RSM)


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