日本Photonic|北崎国际贸易（北京）有限公司

显示全部 >>

产品列表

日本Photonic红外测量装置所有红外相机均采用斯特林制冷，探测器冷却至-190℃以下，有效降低热噪声，确保微弱信号清晰识别。温度分辨率（NETD）：气体观测系列：< 0.020℃ 长波红外相机：< 0.040℃ 查看详情
日本Photonic红外测量装置高速红外相机系列具备**的时域分辨能力：碳氢/CO₂气体观测相机：全画幅（640×512）可达60~125fps，裁剪窗口模式*高4000fps，可捕捉快速喷射、瞬时泄漏的气体动态过程。长波红外高速相机（X8581系列）：全画幅180fps，*小像素模式可达6,500fps。查看详情
日本Photonic红外测量装置与单点检测不同，红外双折射系统采用面分布测量方式，一次拍摄即可获取视野范围内样品全部区域的相位差和轴方向信息，输出二维彩色云图，直观呈现应力分布均匀性查看详情
日本Photonic红外测量装置产品矩阵覆盖从近红外（NIR）到长波红外（LWIR）的宽广波段。近红外双折射仪工作波长为850nm或940nm，专为硫系玻璃、红外透明树脂等不可见光材料设计；高速红外相机则覆盖7.5~12.0μm的长波红外波段，适配高温材料与热成像场景查看详情
日本Photonic高速椭圆计测量设备膜厚测量重复精度高达 σ < 0.1 nm，折射率重复精度达 0.001（以硅基底上约100nm的SiO₂膜为参照）。无论是极薄的原生氧化层还是光刻胶膜，均可实现高灵敏度检测。查看详情
日本Photonic高速椭圆计测量设备设备采用自研的 PCA 光子晶体偏振阵列传感技术，无需传统椭偏仪的偏振滤光片和旋转机械部件，硬件更小巧轻量，同时从根本上杜绝了机械旋转带来的磨损与误差，长期测量稳定性优异查看详情
日本Photonic高速椭圆计测量设备与传统的单点椭偏仪不同，ME 系列通过高速扫描测绘，可一次性获取整片基板（*大12英寸晶圆）的膜厚与折射率二维分布云图，直观呈现全域均匀性。从“点”到“面”的评估方式，可快速定位镀膜不均、局部缺陷与边缘漂移。查看详情
日本Photonic二维双折射评估系统应用广泛：在光学薄膜、镜片、SiC 晶体缺陷检测、高分子注塑件等领域市场占有率超 70%，是行业标准检测工具查看详情