HORIBA日本堀场|北崎国际贸易（北京）有限公司

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HORIBA日本堀场X 射线荧光分析仪为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。自 2002 年以来，全球已有 1000 台仪器用于这些应用，以满足客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。 2012 年，HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪，在很短的时间内变得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器，As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。查看详情
HORIBA日本堀场X 射线荧光分析仪速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向 <15µm 超高强度X射线头，兼具高灵敏度和高空间分辨率高分辨相机和多种照明模式成像双检测器！荧光X射线检测器和透射X射线检测器轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素查看详情
HORIBA日本堀场微区X射线荧光分析仪速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向 <15µm 超高强度X射线头，兼具高灵敏度和高空间分辨率高分辨相机和多种照明模式成像双检测器！荧光X射线检测器和透射X射线检测器轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素查看详情
HORIBA日本堀场微区X射线荧光分析仪速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向 <15µm 超高强度X射线头，兼具高灵敏度和高空间分辨率高分辨相机和多种照明模式成像双检测器！荧光X射线检测器和透射X射线检测器轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素查看详情
HORIBA日本堀场混合皮秒光子检测器HPPD detector technology HORIBA在TCSPC检测器技术的全新发展 HPPD是我们在TCSPC检测器技术方面的*新发展，它结合了传统PMT设计的优点（宽光谱响应和大活性面积）与固态APD技术的优势（良好的检测效率、可忽略的后脉冲和**的时间分辨率）。混合检测器正在成为FLIM和短寿命测定的优选。查看详情
HORIBA日本堀场混合皮秒光子检测器HPPD detector technology HORIBA在TCSPC检测器技术的全新发展 HPPD是我们在TCSPC检测器技术方面的*新发展，它结合了传统PMT设计的优点（宽光谱响应和大活性面积）与固态APD技术的优势（良好的检测效率、可忽略的后脉冲和**的时间分辨率）。混合检测器正在成为FLIM和短寿命测定的优选。查看详情
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