产品详情
  • 产品名称:日本OTSUKA大塚 嵌入式膜厚检测仪

  • 产品型号:
  • 产品厂商:OTSUKA大塚
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简单介绍:
采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统
详情介绍:

特 点

● 采用分光干涉法

● 搭载高精度FFT膜厚解析系统(** 第4834847号)

● 使用光学光纤,可灵活构筑测量系统

● 可嵌入至各种制造设备。

● 实时测量膜厚

● 可对应远程操作、多点测量

● 采用寿命长、**性高的白色LED光源

测量项目

多层膜厚解析

用 途

光学薄膜(超硬涂层、AR薄膜、ITO等)

FPD相关(光刻胶、SOI、SiO2等)

设备构成

单点型

1.jpg

半导体晶圆的面内分布测量

玻璃基板的面内分布测量

多点型

2.jpg

实时测量

流向品质管理

真空室适用

导线型

3.jpg

实时测量

宽度方向品质管理

测量案例

超硬涂层的膜厚解析

4.jpg

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