Name: 日本OTSUKA大塚 膜厚量测仪
Brand: OTSUKA大塚
SKU: FE-300

产品详情

所在位置: 首页> 产品目录> OTSUKA大塚> 分析仪器>

查看大图

你添加了1件商品查看购物车

简单介绍：

支持从薄膜到厚膜的各种薄膜厚度

详情介绍：

特殊长度

● 支持从薄膜到厚膜的各种薄膜厚度

● 使用反射光谱分析薄膜厚度

● 实现非接触、非破坏的高精度测量，同时体积小、价格低

● 简单的条件设置和测量操作！任何人都可以轻松测量薄膜厚度

● 通过峰谷法、频率分析法、非线性*小二乘法、优化法等，可以进行多种膜厚测量。

● 非线性*小二乘法薄膜厚度分析算法可以进行光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）。

测量项目

**反射率测量

膜厚分析（10层）

光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）

测量对象

功能膜、塑料
透明导电膜（ITO、银纳米线）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合剂、胶粘剂、保护膜、硬涂层、防指纹，等等。

半导体
化合物半导体、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、蓝宝石等。

表面处理
DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。

光学材料
滤光片、增透膜等。

FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机膜、封装材料）等

其他
HDD、磁带、建筑材料等

产品留言

标题

联系人

联系电话

内容

验证码

点击换一张

注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

产品名称：日本OTSUKA大塚 膜厚量测仪

产品名称：日本OTSUKA大塚膜厚量测仪