产品详情
  • 产品名称:日本OTSUKA大塚 Smart膜厚仪

  • 产品型号:SM-110PO
  • 产品厂商:OTSUKA大塚
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简单介绍:
可随身携带至生产现场的手持式设计
详情介绍:

特点

● 可携带至现场的手持式

● 可测量0.1μm单位

● 具有形状的样品也可非破坏的测量

● 不论基材材质、可测量其镀膜


测量原理

Smart膜厚仪采用反射分光法(光学干涉法)测量薄膜厚度。例如,在测量基底上的镀膜时,从样品上方入射的光会在薄膜表面发生反射(图中R1)。而穿透薄膜的光会在基底与薄膜的界面处发生反射(图中R2).通过测量由光程差异引起的相位偏移(相位差)所产生的光学干涉现象,可根据测得的反射光谱与折射率计算出薄膜厚度。

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Smart手持式膜厚仪与其他膜厚仪的比较

●与桌上型光学膜厚仪相比,Smart膜厚仪在“现场”以非破坏式直接量测样品,且可以量测特殊形状样品。

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●与接触式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品,也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。

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●与涡电流/电磁式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不需要制作检量线,且可以量测非金属基材并且得到**值!

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不需要量测经验,可快速得到精准的膜厚结果。

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