产品详情
  • 产品名称:日本OTSUKA大塚 显微分光膜厚仪

  • 产品型号:OPTM-A2
  • 产品厂商:OTSUKA大塚
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简单介绍:
OPTM是一款基于显微分光技术、通过微区**反射率测量来实现高精度膜厚与光学常数精准解析的设备。
详情介绍:

规格式样

(自动XY平台型)


OPTM-A1
OPTM-A2
OPTM-A3
波长范围 230 ~ 800 nm 360 ~ 1100 nm 900 ~ 1600 nm
膜厚范围 1nm ~ 35μm 7nm ~ 49μm 16nm ~ 92μm
测定时间 1秒 / 1点以内
光径大小 10μm (*小约3μm)
感光元件 CCD InGaAs
光源规格 氘灯 卤素灯 卤素灯
尺寸 556(W) X 566(D) X 618(H) mm (自动XY平台型的主体部分)
重量 66kg(自动XY平台型的主体部分)

● 非接触、非破坏式,量测头可自由集成在客户系统内

● 初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式

● 高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的**反射率,可分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)

● 单点对焦加量测在1秒内完成

● 显微分光下广范围的光学系统(紫外 ~ 近红外)

● 独立测试头对应各种inline定制化需求

 ● *小对应spot约3μm

 ● ****可针对超薄膜解析nk




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