1. 计量级超高测量精度

全系仪器采用原厂基准电路，电压、电流、电阻基础精度*高可达 ±0.015%，24 小时温漂低至 ±5ppm，测量数值长期稳定，可作为计量实验室标准溯源设备。

2. 极限细微测量分辨率

覆盖 nV 电压、pA/nA 电流、1μΩ 微电阻多档位细分调节，旗舰机型支持 100nV、100pA 步进读取，精准捕捉传感器、半导体元器件微弱漏电、微小压降信号。

线性电路架构优化，30V 量程 DC~100Hz 频段噪声低至 60μVp-p，无杂波干扰，不会损伤光电芯片、低功耗 MCU 等对干扰敏感的精密被测器件。

内置线性、脉冲、阶梯、对数多类扫描模式，*小脉冲宽度 50μs，可自定义多段测试流程，离线存储数千组程序，脱离电脑自动完成老化、循环冲击试验。

标配 USB、GPIB 通讯接口，可选 LAN 网口，兼容通用 SCPI 指令，可对接探针台、分选机、PLC 与上位机，快速搭建全自动 ATE 批量测试机柜。

搭载 OVP 过压、OCP 过流、OTP 过热、短路反接闭锁多重硬件保护，支持输出限值锁定、高阻待机模式，更换样品瞬间切断输出，双向保护仪器与待测件。

支持总线级联联动，多台仪器同步启停、同步切换量程，多工位同步采集数据，测试节拍统一，大幅提升半导体、元器件产线批量检测效率。

产品线包含直流源、高阻计、台式万用表、光功率计、波长计，覆盖电学、光学、绝缘、微电阻全维度检测，一站式适配计量、半导体、锂电、光通信、高校科研场景。

内置智能温度补偿电路，-10℃~50℃区间漂移控制严苛，搭配悬浮隔离输出设计，规避地线串扰，可直接放入高低温试验箱完成环境可靠性长期测试。

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