产品名称：ADCMT 爱德万测试设备高速采样

在移动电子产品销售激增的情况下，DRAM、NAND闪存和多芯片封装（MCP）（智能手机和平板电脑中使用的主要芯片）的发展趋势正迅速向更高速和更大芯片容量转型。这个趋势也同样显见于互联网和云端服务器市场。然而，对于芯片制造商而言，测试现有各类存储器的成本是一大障碍；迫切需要能够提供多功能、高性能和低测试成本（COT）的解决方案。爱德万测试的新型多功能T5833存储器测试系统可以全部满足这些需求，为全系列的存储器提供晶圆分选测试和后道封装测试，包括LPDDR3-DRAM、高速NAND闪存和新一代非易失性存储器。

超高精度、分辨率拉满
电压精度可达 ±0.015%，电流 ±0.02%；分辨率到10nV（纳伏）、100fA（飞安）、1μΩ（微欧），5.5~8.5 位显示，微小信号也能精准捕捉。
超低噪声、长期稳定性极强
输出噪声低至 μV 级，漂移控制在5ppm / 年；自带自校准，减少温漂、时漂，长期不用频繁校准，数据一致性好。
源测一体、双极性输出
既是电压 / 电流源、又是监测表；支持双向吸 / 灌电流，可正负极性输出，适合半导体、传感器、器件 IV 特性测试。
微弱信号测量能力突出
能测1fA 超微电流、10¹⁷Ω 超高阻，低功耗电阻测量（100μA 小电流），避免元件自热误差，适配热敏、光敏、绝缘材料。
高速采样 + 并行 / 多通道测量
*高 20 万次 / 秒采样；双 A/D 双通道同步测，支持多机联动、并行测试，大幅提升产线 / 研发测试效率。
接口齐全、适配自动化 ATE 集成
标配 USB/LAN、可选 GPIB，支持 SCPI 指令；可直接对接 PLC、单片机、测试系统，适合半导体、电子元件产线自动化。
宽量程、多功能覆盖全场景
电压 μV~1000V、电流 fA~10A、电阻 μΩ~10¹⁷Ω；集成扫描、脉冲（*小 25μs）、序列测试、热电偶校准等专业功能。
抗干扰强、适配严苛工况
屏蔽设计、抗电磁 / 杂光干扰；宽温（-10℃~+60℃）、防尘结构，实验室、工厂产线、现场巡检都稳定。
专业细分、垂直行业适配
覆盖半导体器件、光器件（光功率计）、传感器、电池、材料分析；针对微小元件、精密器件做专属优化，场景匹配度高。
无触点长寿命、免维护
纯电子测量、无机械磨损；可靠性高、故障率低，长期稳定运行，降低维护成本、延长设备寿命。