产品名称：TSI美国进口 差分迁移率分析仪

TSI美国进口 差分迁移率分析仪  3086 
TSI美国进口 差分迁移率分析仪  3086 

差分迁移率分析仪 3086
型号：3086差分迁移率分析仪 （DMA） 是 1nm SMPS 等粒度测定仪的关键组件，用于执行粒度分布测量。3086 型设计用于覆盖 1 nm 至 50 nm 的一般尺寸范围。静电分级机 3082 可与四种 TSI DMA 中的任何一种一起使用（参见其他型号 3081A、3083 和 3085A）。
TSI DMA 配备了识别标签，以便分类器自动识别已安装的组件。此硬件自动识别支持数据质量。
产品详情
每个 DMA 都是为特定目的而设计的。3086 型专门用于覆盖 1 nm 至 50 nm 的尺寸范围。优化的流路减少了扩散损失，提高了尺寸分辨率。
请务必下载 Classifier 3082 的*新固件更新和*新的 Aerosol Instrument Manager 软件。
应用
粒度分布测量，尤其是成核颗粒和新颗粒形成事件的测量
单分散气溶胶生成
特点和优点
尺寸范围为 1 nm 至 50 nm，具体取决于流速设置和扫描时间
与静电分级机 3082 兼容，支持更换 DMA 模型，使用户能够实现各种粒径范围