产品名称：BRUKER布鲁克 原子力显微镜

AFM检测性能的全新定义
适合更宽应用领域的*高性能的大样品AFM成像
  ◆ 对所有AFM样品提供*高性能的测量
  ◆ 提供更广泛的AFM模式与应用
  ◆ 提供定量的纳米材料性能图谱
  ◆ 由**的峰值力模式实现
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。仍然以世界上应用*广泛的AFM大样品平台为基础，齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行**革新。全新的系统设计，实现了****的低漂移和低噪音水平，现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。
Dimension® Icon™优良的图像分辨率，与Bruker特有的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处于行业××地位，*新的Dimension® Icon™是针尖扫描技术的又一次革新，配置温度补偿位置传感器，实现了Z轴亚埃级和XY轴埃级的低噪音水平，将其应用在90微米扫描范围的大样品台体系上，效果甚至优于高分辨小样品台AFM的开环噪音水平。全新设计的XYZ闭环扫描头，即使在较高的扫描速度工作时，也不会损坏图像质量，实现了更大的数据采集输出量。
**体验
  ◆ 独特的传感器设计，在闭环条件下，也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平，且具有极高的扫描分辨率
  ◆ 极大地降低噪声水平，在轻敲模式下低于30pm，接触模式下可获得原子级图像
  ◆ 热漂移速率低于200pm/分钟，获得真正的样品图像
高效率
  ◆ XYZ闭环扫描器的**设计，使仪器在较高扫描速度工作时，也不降低图像质量，具有更大的数据采集效率
  ◆ 将十年的研发经验融入到参数预设置中，在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
  ◆ 高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置
全功能
  ◆ 针尖和样品之间开放式的空间设计，不仅可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，满足不同研究工作的需求
  ◆ 硬件和软件技术的不断**，新开发的HarmoniX 模式，可以测量纳米尺度上材料性质
  ◆ 用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析。

BRUKER布鲁克 原子力显微镜 Dimension® Icon™

BRUKER布鲁克 原子力显微镜 Dimension® Icon™