产品名称：RIGAKU日本理学 荧光光谱仪

用于分析少量粉末样品

如果样品是粉末，则装满微抹刀就足够了。直接激发光学系统甚至可以对*小直径为 1 mm 的小样品进行高灵敏度分析。

作为粉末X射线衍射的辅助装置

理学X射线分析集成软件SmartLab Studio II - NEX DE测量结果文件可以从PowderXRD插件的晶相自动搜索条件设置屏幕加载。通过NEX DE获得的基本信息将反映在搜索条件中。

可从 Na 到 U 进行分析

它可用于从研究和开发到过程控制的通用目的。

使用 FP 方法进行无标准分析

标准配备块状FP法和薄膜FP法，可以轻松地对无法制备标准样品的样品进行定性和定量分析。还可以使用标准校准曲线法进行定量分析。

可以安装在任何地方

仅使用 AC100V 电源工作，无需冷却水。无需任命 X 射线工作主管。

产品名称	NEX DE
方法	X 射线荧光分析 (XRF)
目的	固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析
技术	使用 SDD 检测器的能量色散 XRF (EDXRF)
主要成分	12W-60kV X射线管、SDD探测器
选项	自动进样器、旋转器（单位置）
控制（电脑）	外部 PC、MS Windows® 操作系统、QuantEZ 软件
机身尺寸	356（宽）×260（高）×351（深）毫米
重量	约27公斤（本体）
电源	单相 100/220 VAC 50/60 Hz，1.5 A