RIGAKU日本理学扫描式荧光X射线分析仪 ZSX Prime 400 北崎国际贸易（北京）有限公司

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简单介绍：

扫描X射线荧光分析仪一种荧光X射线分析仪，可以使用各种适配器测量各种形状的样品和多个样品。

详情介绍：

多种样品适配器，适用于大直径样品、不规则形状样品和多个样品

可直接测量直径为 400mm x 50mm 的样品。无需将珍贵的样品加工成更小的尺寸。我们还提供可同时设置多个样品的样品适配器和可容纳不规则形状样品的样品适配器。

测定可能元素Be～U

独特的真空度控制机构APC（自动压力控制）可稳定测量部分的真空度，从而可以高精度测量包括超轻元素在内的轻元素。

使用波长色散系统进行点映射分析

采用r-θ驱动样品台。在利用内置高精度相机（500万像素）确认分析区域的同时，可以利用波长色散法优异的光谱分辨率，进行**的点映射测量，映射位置分辨率为100微米，甚至对于超轻元素。

ZSX制导软件

它是一款适合初学者的软件，可让您使用可视屏幕执行**分析。有关荧光 X 射线分析技术的专业知识被纳入各个领域，包括支持创建定量应用的评估程序。

预防人为错误

ZSX Gudance 具有人为错误预防功能，允许您为每个操作员设置软件访问级别，从而允许任何人使用易于使用的操作屏幕进行测量。

光学保护

ZSX Primus 400 是一款底照式 X 射线荧光分析仪，其中从 X 射线管到探测器的光学系统放置在被测样品的下方。为了防止即使在测量过程中样品掉落也不会损坏光学系统，在样品和X射线管之间放置了铍滤光片以保护X射线管，并在样品和准直器之间放置了保护膜。我是。

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产品名称：RIGAKU日本理学 扫描式荧光X射线分析仪