RIGAKU日本理学扫描式荧光X射线分析仪 ZSX Primus IVi 北崎国际贸易（北京）有限公司

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产品名称：RIGAKU日本理学扫描式荧光X射线分析仪
产品型号：ZSX Primus IVi
产品厂商：RIGAKU日本理学
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简单介绍：

这是一款底照式扫描X射线荧光分析仪，基于ZSX Primus IV培育的*新硬件和软件技术，在性能和功能上取得了进一步的改进。只需将液体样品倒入覆盖有样品膜的样品池中即可轻松测量。此外，盘状合金、电镀板、玻璃板等样品只需将测量面朝下放置在样品架上即可轻松测量。对于难以压模的颗粒样品、小体积样品、小直径碎片等，很容易将其直接设置在样品池的薄膜上，无需样品处理即可轻松测量有价值的样品。您可以指定分析位置并执行映射测量，同时使用高分辨率相机观察样本图像。

详情介绍：

轻松共享应用程序
通过为顶照式ZSX Primus IV和底照式ZSX Primus IVi创建通用的硬件和软件平台，可以轻松地在两个型号之间以及同一型号之间共享应用程序。

配备先进的自动判断功能的SQX分析
SQX分析是利用定性分析结果进行定量分析的无标准FP分析。

・评估重元素产生的高次谱线的影响，自动选择*佳测量条件，实现更准确的SQX分析
・新增恒定角度测量设置模式，可在EZ扫描中检测微量元素
・EZ配备超高速需要不到2分钟测量时间的扫描模式
- 支持多层薄膜样品的筛选分析
- 任何样品薄膜都可以添加到样品薄膜校正
- SQX散射线FP分析（用于粉末和聚合物）现在直径为30毫米
・重新计算SQX时可以更改为SQX散射线FP分析快速
更换为氦气气氛
通过在样品室和光谱室之间添加真空隔板，可以缩短更换为氦气气氛的时间。此外，通过增加液体样品保持器检测机构，将液体样品引入真空气氛中不会出现错误，并且可以放心地进行测量。

用于轻元素的气体保护正比计数器 S-PC LE
气体保护检测器在分析过程中产生零气体排放。探测器无需安装气瓶。

使用WDX系统进行点/映射分析

通过采用r-θ驱动样品台，X射线强度不会因测量点而变化，并且映射位置分辨率为100μm，可以分析印刷电路上的布线可以对板材等进行检测，并可以对各种材料中的夹杂物进行分析。

产品名称	ZSX Primus IVi
方法	波长色散 X 射线荧光分析 (WDXRF)
目的	固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析
技术	扫描波长色散 X 射线荧光分析 (WDXRF)
主要成分	Rh 目标 4kW 或 3kW，样品交换器*多 60 个样品
主要选项	He替代、r-θ驱动样品台、点/映射分析、样品观察机制
控制（电脑）	外部 PC、MS Windows® 操作系统、ZSX 指导软件
机身尺寸	840（宽）×1250（高）×980（深）毫米
体重（身体）	500公斤
电源	三相200V，40A，50/60Hz

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产品名称：RIGAKU日本理学 扫描式荧光X射线分析仪

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