产品名称：NAPSON纳普森4 电阻率探头测量仪

4 电阻率探头和薄层电阻测量仪

产品特性和功能

Napson 4 探头测量系统使用卡式磁带类型（*一些 Jandel 的原始类型）。 此外，还提供用于其他公司设备的 6 针连接器类型和小型模块类型。

（1） 墨盒式（Napson 原装）[产品图片 1st]
（2） Jandel 原装型 [产品图片 2nd]

Jandel的探头*适合测量半导体和金属薄膜中的电阻率和薄层电阻，这些材料对精度要求很高，多年来一直受到高度评价。

• ※得益于V形弹簧，针压始终保持稳定。
• ※顶部和底部都使用宝石导轨来固定探头，从而实现针对针的准确性和稳定性。
• ※轴与**一体化，**损坏较少，耐久性**。

测量规格

根据要测量的样品的材料、表面状况和形状选择类型。

推荐参考示例

※除上述样品外，还可以测量（导电）。 请联系我们。

• ※其他类型也可用。
• ※特殊规格也可咨询。

（关于零件号）
<Example> TC-40μ-200g/1.00mm

• 针头材质：TC; 碳化钨（OS; 锇合金）
• 针尖半径：40 μm（可以从 25 μm 到 500 μm）
• 针压（g/线）：200 g（可以从 10 g 到 250 g）
• 针距：1.00mm（可从0.5mm到1.59mm）
• 针排列：线性（标准）（方形可）