产品名称：NAPSON纳普森非接触式电阻手动测量仪

产品特性和功能

1分单点测量

非接触式非接触式

一种简单的测量仪器，只需在探头之间插入拉力即可进行测量

• 在电阻率和薄层电阻测量模式之间轻松切换
• 通过 JOG 刻度盘轻松设置测量条件

※由于探头是固定的，因此您可以在购买前从多种类型的探头中选择一种类型

测量规格

测量目标

• 半导体和太阳能电池材料（硅、多晶硅、碳化硅等）
• 新型功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
• 导电薄膜（金属、ITO等）
• 化合物半导体（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
• 其他（*请联系我们）

目标大小

~8 英寸或 ~156 x 156 毫米

测量范围

[电阻率] 1m~200Ω·cm
（*所有探头类型的总量程/500um厚度）
[片状电阻] 10m~3kΩ/sq
（*所有探头类型的总量程）

*每种探头类型的测量范围请参考以下内容。
（1）低：0.01~0.5Ω/□（0.001~0.05Ω·cm）
（2）中：0.5~10Ω/□（0.05~0.5Ω·cm）
（3）高：10~1,000Ω/□（0.5~60Ω·cm）
（4）S-高：1,000~3,000Ω/ □（60~200Ω·cm）

产品尺寸

W220×D325×H210mm 约
6.5kg