产品详情
  • 产品名称:ESPEC埃斯佩克 高加速热冲击装置

  • 产品型号:TSH-13-W
  • 产品厂商:ESPEC埃斯佩克
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简单介绍:
可靠性要求越来越高,压力测试的测试时间越来越长,并且要求缩短产品开发时间。 将新开发的高加速热冲击装置与可将传统热测试时间缩短至1/3的导体电阻评估系统相结合,可评估印刷电路板和电子元件之间的连接可靠性,从而缩短了开发周期,而且还降低了功耗。消耗。
详情介绍:
特征

<高加速热冲击装置>

  • 可以获得与之前的热冲击测试相关的测试结果。*1

    *1 热冲击试验基于“温差加速模型(Eyring模型)”。寿命周期与温差之间的关系用下式表示。
    L=A(ΔT) -n
    L=生命周期
    A=常数
    ΔT=温差
    n=温差系数
    由此可以确定,暴露时间不会影响评估结果。 ESPEC有限公司独立进行的样品测试也得到了类似的结果。

    • 新测试方法的提议
  • 高风速和独特的气流控制,实现3分钟内从+125℃回温到-40℃。测试时间比之前的冷热测试时间显着缩短了1/3。
  • 免除霜功能可防止结霜,并且无需除霜即可中断测试。
    可以减少除霜所需的时间和电力消耗。
  • 由于可以使用可变风速装置来抑制风速,因此也可以进行常规的热冲击测试。

<导体电阻评价系统>

  • 热冲击试验时,可连续测量微小电流和微小电阻,利用***判断和变化率判断,准确判断故障。
  • 有两种类型:直流电流测量方法和交流电流测量方法。
确认加速有效性的示例(将暴露时间缩短至传统测试的 1/3 的示例)
  高加速热循环试验(气罐) 常规热循环试验(气罐)
温度范围 -40℃ ⇔ +125℃ (⊿t=165℃)
接触时间 5分钟 15分钟

温度 曲线





温度曲线 温度曲线
  高温
(+123℃以上)
低温
(-38℃以下)
  高温
(+123℃以上)
低温
(-38℃以下)
板温恢复时间 1.1-1.3分钟 1.5-2.5分钟 板温恢复时间 3.4至7.9分钟 3.7 至 6.2 分钟
基材温度保持时间 3.7-3.9分钟 3.5至2.5分钟 基材温度保持时间 7.1 至 11.6 分钟 8.8 至 11.3 分钟

新测试方法的提议

断面观察:裂纹发生和扩展趋势无明显差异。

高加速度

高加速度
500次循环
高加速度
1000次循环
高加速度
2000次

传统的

传统的
500次循环
传统的
1000次循环
传统的
2000次

强度测试:接头强度劣化倾向无差异

强度测试:接头强度劣化倾向无差异

规格

<高加速热冲击装置>

模型 TSH-13-W
方法 温度恢复(高加速运行)
表现 高温暴露 +60℃~+200℃
低温暴露 -70℃~0℃
温度恢复(高加速运行) 高温暴露:+125℃ 5 分钟
低温暴露:-40℃ 5 分钟
样品:1.36kg(假设玻璃环氧板)
温度恢复时间:3 分钟内
冷冻法 机械双制冷方式(水冷)
作品 内部容量 12升
测试区 宽300×高200×深200mm
外国法 宽1430×高1900×深1370mm
重量 约1,070公斤

<导体电阻评价系统(直流电流测量法)>

模型 AMR-040-UD
测量方法 电流测量方法
通道配置 标准40ch(*大280ch/机架)
通道控制 10通道单元
电阻测量范围 1.0×10 (-3) ~1.0×10 (6) Ω
测量范围 1Ω、10Ω、100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ、自动
测量仪器 型号:34420A(安捷伦科技公司制造)
外形尺寸 宽530×高1750×深940mm

<导体电阻评价系统(交流电流测量法)>

模型 AMR-040-UA
测量方法 电流测量方法
通道配置 标准40ch(*大280ch/机架)
通道控制 10通道单元
电阻测量范围 1.0×10(-3)至1.0×10(6)Ω
测量范围 10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、100Ω、1kΩ、10kΩ、自动
测量仪器 型号:4338B(安捷伦科技公司制造)
外形尺寸 宽530×高1750×深940mm
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