产品详情
  • 产品名称:ESPEC埃斯佩克 大型加速寿命试验装置

  • 产品型号:EHS-432-L
  • 产品厂商:ESPEC埃斯佩克
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简单介绍:
与常压下的湿度测试相比,测试时间可以缩短。 除了标准产品外,还有两种类型可容纳更大的样品输入。 标准配备机械门锁机构/门锁**机构
详情介绍:
兼容各种半导体测试标准
IEC 60068-2-66 小型电气/电子零件(主要是非气密密封零件) 不饱和
IEC 60749-4 半导体器件 不饱和
EIAJ ED-4701 半导体器件 不饱和
JESD22-A110E 非气密密封(固体)设备 不饱和
JESD22-A102E 非密封IC、分立器件 饱和

*请选用M仪器进行符合上述测试标准的测试。


与其他测试标准的兼容性

JIS C 60068-2-66 集成电路和半导体器件中铝金属的腐蚀 不饱和
JPCA-ET08-2002 印刷线路板 不饱和

注:大型高加速寿命试验装置(EHS-432)依法属于**压力容器。 (*EHS-432L为长室尺寸,法律规定也属于1类压力容器。)因此,请在本设备交付和安装前至少30天向除办理《竣工检验申请和竣工检验》手续外,还需指定一名**压力容器的作业监督员来使用和管理该设备。
对于海外出口,根据适用的标准,压力容器有限制。请与我们联系以获取更多信息。

  • *宽范围HAST测试、晶须加速测试和空气HAST测试将单独进行。请联系我们的销售部门。
  • * 对于样品电源端子,我们将提出满足客户要求的规格。请联系我们的销售部门。
  • *向罐内引入高电压的要求可能会导致罐内放电,因此我们将在确认详细规格后单独应对。请联系我们的销售部门。请注意,由于无法确保爬电距离等原因,这可能无法实现。请注意。
测试用例
  • 引线键合的连续性评估
样品:半导体封装
测试条件示例:130℃/85%rh 100h
  • LED湿度劣化评价
样品:LED
测试条件示例:105℃/87%rh 250h
  • 晶须评估
样品:印刷电路板
测试条件示例:120℃/85%rh 2500h
  • 迁移评估
样品:印刷电路板
测试条件示例:110℃/85%rh 100h、130℃/85%rh 400h

*在使用HAST室的饱和测试和不饱和测试中,可以在比常温常湿暴露更短的时间内再现该现象。可以进行符合IEC-68-2-66、IEC749和EIAJ ED-4701等标准的测试。



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