ULVAC爱发科2ω法纳米薄膜热传导率计 TCN-2Ω 北崎国际贸易（北京）有限公司

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能简单地评估纳米薄膜的热传导率。在2ω测量中，是测量纳米薄膜厚度方向的热传导率的世界**的商用设备。与其他方式相比，能简单地进行试料的制作和测量。

详情介绍：

能简单地评估纳米薄膜的热传导率。
在2ω测量中，是测量纳米薄膜厚度方向的热传导率的世界**的商用设备。
与其他方式相比，能简单地进行试料的制作和测量。

特点

热性能测量方法（日本**第5426115号）

金属薄膜采用周期加热法加热，基频（f/Hz）。因此，热能的响应频率为2 f / Hz，等于基本频率的两倍。如图所示，在由金属薄膜（0）–薄膜（1）-基板（s）组成的薄膜的情况下，金属薄膜上表面的温升T（0）可以在一维热传导模型的基础上计算出来。假设能量完全到达底部基板，T（0）遵循方程，

（λ / W m^-1对^-1， C/J K^-1m^-3， q/ W m^-3， d/m ， ω （=2πf ） / s^-1）

我们注意到实部（同相振幅）包含薄膜的信息。假设热能完全到达底部基板，则同相振幅与（2ω）成正比^-0.5。薄膜（λ₁）的热导率由（m：斜率，n：截距）估计

TCN-2ω示意图

TCN-2ω测得的各种SiO₂薄膜的实验结果

薄膜评估

样品制备

d₁ / 纳米	19.9	51.0	96.8
λ₁ / 瓦姆^-1对^-1	0.82	1.12	1.20

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