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产品详情
简单介绍:
高能量分辨率→FWHM<149ev@5.9 kev) ●计数率高→事件计数次数>2×10SDD照片5CPS
● 无需电冷→液氯
● T08封装→小巧轻便
149ev@5.9>
详情介绍:
用法
●X射线衍射和X射线荧光分析
●全内反射X射线荧光分析
●同步辐射分析
●用于学校和研究机构的基础实验 ●
EPMA
系列 ●XAFS
SDD探测器内部结构(标准规格)
SDD系统配置图
应用实例
- 将SDD检测器连接到电子显微镜的示例
- 使用无窗口 SDD 探测器分析 O-Kα 和 C-Kα 射线
- 用于软X射线分析的SDD探测器系统
- 新型大口径SDD探测器系统性能比较数据
- 超轻元素SDD探测器系统的开发
SDD 系统规格
探测器 (SDD) 规格 | |
有效晶体直径 | 7米㎡、10米㎡、30米㎡、80米㎡ |
晶体厚度 | 450微米 |
探测器外壳 | T08系列 |
事件窗口 | 8μmBe/特殊聚合物膜 |
准 直 器 | 锌/钯 |
冷却系统 | 帕尔贴元素 |
温度控制范围 | ~-35°C 室温 25°C |
带温度监测器 | 存在 |
■ 计数电路(DSP)规格
|
|
数字信号处理器是一种紧凑的高性能类型,将主放大器(脉冲处理器)和 MCA 组合在一块板上 |
|
峰值时间 | 0.5~75微秒 |
硬件内存区域 | 2000ch~8000ch |
带增益控制 | 存在 |
堆积与拒绝水平 |
存在 |
使用条款 |
温度:0~25°C 湿度 :20~80% 电源 :AC100V±10%,2A 接地:3 类接地 *不需要液氮 |
配置 | SDD单元、DSP单元、电源控制器单元、配件 |
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