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产品详情
简单介绍：
无损分析技术的在线薄膜厚度分析仪。
详情介绍：
输出显示示例
尺寸图
应用实例
- 在线涂层测厚仪的实际实例和性能评估
- 化学溶液中金属元素的在线浓度控制分析示例
OURSTEX100TA-F 规格
| 测量原理 | 能量色散X射线荧光光谱法 |
| 测量目标 | 影片 |
| 权力 | AC100V-240V |
| 安装环境温度 | 5-27°摄氏度 |
| 设备冷却 | 水冷式*1 |
| X射线额定输出 | 40kV，1.0mA，*大40 （W） |
| 探测器 | SDD（硅漂移检测器） |
| 计数电路 | DSP（数字信号处理器） |
| 测量头的尺寸 |
温度：5~27°C 266（W）×136（D）×160（H）mm*2 |
*1：测量头（内部）采用水冷。
*2：如有更改，恕不另行通知。
待测样品的详细规格、目标元件、精度、操作等将单独讨论。 请随时与我们联系。
*关于OURSTEX100TA-F的引入，需要提前通知劳动标准检查办公室。
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