产品详情
  • 产品名称:HORIBA日本堀场全自动模块化荧光寿命光谱仪

  • 产品型号:DeltaFlex
  • 产品厂商:HORIBA日本堀场
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简单介绍:
兼具高性能和灵活性的荧光寿命测试系统,可利用时间相关单光子技术(TCSPC)测试方法,快速有效地采集荧光寿命数据 DeltaFlex 全自动模块化荧光寿命光谱仪是我们的Delta系列新一代时间相关单光子计数荧光寿命测试仪器之一,其可提供*大的灵活性。
详情介绍:
  • 高脉冲频率激光光源和PPD检测器可实现低至25ps的荧光寿命测量
  • 每秒高达1000次的时间相关单光子计数(TCSPC)测量技术,非常适合动力学研究
  • 搭配单色仪实现波长选择
  • 覆盖紫外到近红外波长范围的DeltaDiodes脉冲激发光源可供选择。有关完整详细信息请参阅 DeltaDiode页面
  • SpectraLED光源可用于获取更长的发光寿命(微秒到秒),且提供紫外到近红外波长范围光源选择
  • 可升级到基于单色仪的NIR系统(DeltaFlex-NIR-H或DeltaFlex-NIR-R)
  • 通过F-Link模块轻松添加附件
  • 综合软件包
  • 测量模式
    • 荧光寿命25ps到1s
    • 动态时间相关单光子计数(TCSPC)方法,可连续测量1毫秒内1~10000次衰减,直到1 分钟内1次衰减。
    • 各向异性测试, 解卷积以分辨更短的旋转相关时间
    • 时间分辨发射光谱 (TRES),可一次采集多达100个波长的寿命衰减曲线


    • 稳态光谱测量


    DeltaFlex 系统

    *短荧光寿命 25ps,使用半导体脉冲激光光源*
    *短测量时间 1 毫秒*
    脉冲频率

    10kHz - 100MHz(使用DeltaDiode光源)

    0.1Hz - 10kHz(使用SpectraLED光源)
    光源控制盒 DeltaDiode和SpectraLED
    时间半高宽

    <200ps(使用PPD/TBX和半导体脉冲激光光源)

    死时间 10ns
    时间范围 10ns - 11s
    波长选择
    • 三种标配发射单色仪200-800nm
    • 300-1200nm,400-1600nm可选
    • 提供激发和发射单色仪 
    探测器响应
    • 标配250 - 650nm, 可选250 - 850nm
    • 300 – 900nm. 可提供至1700nm的近红外探测器
    PC 接口 USB 2.0.接口,不包含PC机,需要Windows XP或Windows 7, 32/64位英文版
    系统占地面积 75cm x 55cm,不含PC机
    scrollable

    **使用DeltaDiode光源和PPD探测器,不适用线缆

    DeltaFlex-NIR升级系统

     系统型号 DeltaFlex DeltaFlex-NIR-H DeltaFlex-NIR-R
    可测量寿命范围* 25ps 至1s 100ps 至 1s 300ps 至 1s
    接口 USB USB USB
    探测器覆盖波长范围

    250-650nm

    (250-850nm或300-900nm可选)
    950-1400nm或950-1700nm可选

    300-1400nm或

    300-1700nm可选
    scrollable

    * 依赖于样品和系统配置

    参数和外观改变无需另行通知



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