HORIBA日本堀场带 X 射线荧光的连续颗粒物监测仪 PX-375 北崎国际贸易（北京）有限公司

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简单介绍：

带有自动采样功能的连续元素和颗粒物质量分析仪人们越来越关注颗粒物对人体健康的影响，为制定有效的防护措施，颗粒物（PM）溯源尤为重要。因此，除了需要确定PM的质量浓度，还需要确定元素浓度。PX-375带有自动进样功能，可连续对颗粒物进行在线的定性定量分析，对空气污染进行快速溯源。

详情介绍：

* LDL (σ) 是 LDL (2σ)的二分之一。

* O - 标准参数，需由标准校准材料进行校准。
* 对于元素浓度的测量，需要用标准校准材料进行校准。
* 关于标记为不可检测的元素，请另行联系HORIBA咨询。

产品的规格、外观或其他方面如有变化，恕不另行通知。

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*通讯及仪器组成请另行咨询。

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测量方法	能量分散型X射线荧光分析法
可检出元素	参照可检出元素（表2）标准可测量元素： S, Ti, Cr, Mn, Ni, Cu, Zn, Pb, Al, Si, K, Ca, V, Fe, As.
1次性X射线滤纸	轻元素、重元素两种类型自动切换
管电压	15kV, 50kV 自动切换
检测器	SDD (硅漂移检测器)
观测	CMOS 摄像头
检测下限 (2σ)	EPA推荐方法 IO 3.3 参照检测下限 (示例)（表1）
测量范围	高至测量时间
分析时间	标准 1000s (16.6 min) 可选 100 / 200 / 500 / 1000 / 2000 / 5000 / 10000s
X 射线强度校准材料	NIST SRM 2783, 其它材料(可选)
X 射线**功能	X 射线连锁功能键控开关 X 射线输出指示灯

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产品名称：HORIBA日本堀场带 X 射线荧光的连续颗粒物监测仪