日本OTSUKA大塚高速延迟测量装置 RE-200 北崎国际贸易（北京）有限公司

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产品名称：日本OTSUKA大塚高速延迟测量装置
产品型号：RE-200
产品厂商：OTSUKA大塚
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简单介绍：

日本OTSUKA大塚高速延迟测量装置

详情介绍：

产品信息

特点

●可测从0nm开始的低（残留）相位差
●光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于世界*快速的0.1秒以下来处理）
●无驱动部，重复再现性高
●设置的测量项目少，测量简单
●测量波长除了550nm以外，还有各种波长
●Rth测量、全方位角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
●通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）

测量项目

●相位差
●主轴方位角
●椭圆率&方位角
●三次元折射率（NxNyNz）

用　途

●位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
●树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）

原　理

●什么是RE-200
●RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。

仕　样

型号	RE series
样品尺寸	小10×10mm ～大100×100mm
测量波长	550nm （标准仕样）※1
相位差测量范围	约0nm ～约1μm
轴检出重复精度	0.05°（at 3σ） ※2
检出器	偏光计测模块
测量光斑直径	2.2mm×2.2mm
光源	100W 卤素灯或 LED光源
本体?重量	300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、约20kg

Option
●Rth测量、全方位角测量※治具本体（旋转：180°, 倾斜：±50°）
●动旋转倾斜治具

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产品名称：日本OTSUKA大塚高速延迟测量装置