日本OTSUKA大塚液晶层间隙量测设备 RETS series 北崎国际贸易（北京）有限公司

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日本OTSUKA大塚液晶层间隙量测设备

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产品信息

特　点

● 采用了偏光光学系和多通道分光检出器
● 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板
● **对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备

测量项目

● 封入cell gap
● twist角 *
● rubbing角 *
● pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］ *
● 空cell gap *
● 相位差（复折射相位差）的波长分散 *
● 光学轴 *
● 椭圆率/方位角 *
● 三次元折射率/Rth/β *
● 分光光谱/色度*

测量对象

● 液晶cell
-　透过、半透过型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电）
-　反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
● 光学材料
-　其他（相位差●椭圆●偏光膜、液晶材料）

规格

型号	RETS series
样品尺寸	20mm×20mm ～*
cell gap测量范围	0.1μm ～数10μm
cell gap重复性	±0.005μm
检出器	多通道分光光度计
测量波长范围	400nm ～ 800nm
光学系透过用偏光子unit	偏光光学系消光比 10-5内置Gran-tomson prism（方解石）自动旋转（角度精度0.1°）、自动装卸机构
测量口径	φ2, φ5, φ10 (mm)
光轴倾斜机构	-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等

测量案例

相位差与液晶层间隙值

液晶面内分布图

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产品名称：日本OTSUKA大塚液晶层间隙量测设备