日本OTSUKA大塚相位差测量装置 RETS-100nx 北崎国际贸易（北京）有限公司

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简单介绍：

日本OTSUKA大塚相位差测量装置

详情介绍：

产品信息

特点

采用大塚电子自社的多通道瞬间光谱仪实现高精度测量

■ 高精度

测量多波长实现高精度

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＜高精度的原因＞

■使用大塚电子自社的高性能瞬间多通道光谱仪。

■获得数据量很多的透过率信息，实现高精度测量。

■获得约个500波长的透过率信息、是其他公司同类产品的约50倍

■ 宽测量范围（保留范围：0 至 60000 nm）

■ 可测量相位差的波长分散形状

超高相位差测量　-可高速·高精度测量超双折射薄膜-

■ 相位差

测量测量　-不剥离、非破坏测量多层薄膜的每层相位差及轴角-

轴角度补正功能　-可补正样品设置的偏移，轻松实现轴角测量的高再现性-

■ 样品重复取放10次，对比有·无角度补正的数据

【样品：相位差膜R85 】

简单的软件——测量时间和处理时间大大减少。大大提高了可操作性-

规格

* 1 需要自动倾斜旋转平台（可选）

项目	相位差测量装置RETS-100nx
测量项目（薄膜、光学材料）	相位差（波长分散）、慢轴、Rth1、3次元折射率1等
测量项目（偏光片）	吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等
测量项目（液晶Cell）	Cell Gap、预倾角*1、扭曲角、配向角等
相位差测量范围	0 ～ 60,000nm
相位差重复性	3σ≦0.08nm （水晶波长板约600nm）
Cell Gap测量范围	0 ～ 600μm （Δn=0.1的情况）
Cell Gap重复性	3σ≦0.005μm （Cell Gap约3μm、Δn=0.1的情况）
轴检出重复性	3σ≦0.08° （水晶波长板约600nm）
测量波长范围	400 ～ 800nm （可选择其他波长）
检出器	瞬间多通道光谱仪
测量光斑	φ2mm （标准式样）
光源	100W 卤素灯
数据处理部	PC、显示器
平台尺寸：标准	100mm × 100mm （固定平台）
选配	· 超高相位差测量 · 多层测量 · 轴角度补正功能 · 自动XY平台 · 自动倾斜旋转平台