日本OTSUKA大塚粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000S 北崎国际贸易（北京）有限公司

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产品名称：日本OTSUKA大塚粒径 · 分子量测系统
产品型号：ELSZ-2000S
产品厂商：OTSUKA大塚
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简单介绍：

北崎热销日本OTSUKA大塚

详情介绍：

产品信息

选型表

型号	粒径测量	ZETA电位测量	分子量测量	PH滴定测量
ELSZ-2000ZS	●	●	●	●*1
ELSZ-2000Z	●	●	-	●*1
ELSZ-2000S	●	-	●	●*2

*1：需搭配选配件PH滴定仪 *2：需搭配选配件PH滴定仪和粒径流动容器

特点

●*新型号高灵敏度APD，提高灵敏度，缩短测量时间

●通过自动温度梯度测量可以进行变性、相变温度分析

●可以在0 ~ 90℃的宽温度范围内进行测量

●增加宽范围分子量测定和分析功能

●可对应浑浊的高浓度样品的粒径·ZETA电位测定

●测量样品池内的电渗透流，通过图谱分析提供高精度的ZETA电位测量结果

●可对应高盐浓度溶液的ZETA电位测定

●可对应小尺寸固体样品的ZETA电位测量

用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅对应微小颗粒，还适用于薄膜和平板表面的科学研究。

●新型功能材料领域
燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）
纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等。
●陶瓷/着色材料工业领域
陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）
无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制
颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）
浆料状样品
滤光器
浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究
●半导体领域
异物附着在硅晶片表面的原理解析
研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究
CMP浆料的相互作用
●高分子聚合物/化工领域
乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）
聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能性研究、功能纳米颗粒
纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究
●制药/食品工业领域
乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测
脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测

原理

粒径测量原理：动态光散射法（光子相关法）

分散在溶液中的粒子，因其布朗运动受到粒径大小影响，当大粒子受到光照射时所得到的散射光变化较为缓和，而小粒子则较为剧烈。

通过光子相关法分析这种波动，可以求得粒径和粒径分布。

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解析流程

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由散射强度的时间分布得到自相关函数，经过分析求得粒径分布

混合样品（不同的粒径分布）可解析为如图的粒径分布

Zeta电位测量原理：电泳光散射法（激光多普勒法）

对溶液中的粒子施加电场时，可以观察到粒子电荷所对应的电泳动。籍由此电泳速度可以求得ZETA电位及电泳移动度。

电泳散射法将光照射在泳动中的粒子上得到散射光，根据散射光的Doppler位移量求得电泳速度。

因此也被称之为Laser Doppler法。

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实测电渗流的优点

测量ZETA电位时，在样品池内的粒子除了会泳动外，还会产生电渗流。

电渗流是指在样品池内壁面带有负电荷时，溶液中的正离子会聚集于壁面附近。如施加电场时，壁面附近的正离子会往负离子电极方向移动，并在样品池内中央附近产生的一种对流现象。

ELSZ系列，可通过实测样品池内所观察到的电子移动度来解析电渗流。

由于已充分考虑到样品因附着与沉降会导致样品池内赃污，所以可以取得正确的静止面位置，来求得真正的ZETA电位与电子移动率。

森·冈本公式

充分考虑电渗流后进行样品池内泳动速度的解析

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电渗透流应用于多成分解析

ELSZ series通过实际测量样品池内多点观察到的电泳移动度，可以确认测量数据内ZETA电位分布的再现性及判定杂质的波峰。

企业微信截图_16396351153374.png

应用于固体平板样品池

固体平板样品池是将固体平板样品紧密接触于盒型石英样品池上方而形成一体的构造。

实测样品池高度方向各层观测粒子的电泳移动度，根据所得到的电渗流Profile可分析出固体表面电渗流速度，进而求得平板样品表面的ZETA电位。

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高浓度样品的ZETA电位测定原理

对于光不易穿透的高浓度样品或有色样品，由于受到多重散射和吸收等影响，以往使用的ELS series很难测量到所需结果。

但现在，ELSZ series搭载的标准样品池的测量范围扩大，可测量稀溶液样品乃至高浓度溶液样品，并且，通过采用FST法*的高浓度样品池可测量高浓度领域的ZETA电位。

图片5.png

* : Electrophoretic mobility measurement of concentrated suspension using Forward Scattering through Transparent electrode

分子量测量原理（静态光散射法）

众所周知，静态光散射法可以轻松测量**分子量。

测量原理为，将光线照射在溶液分子上可以得到散射光，根据散射光的**值求取分子量。即利用了大分子可得到强散射光，小分子可得到弱散射光的现象。

实际上，因为浓度不同散射光强度也不同，实测数点不同浓度溶液的光散射强度，代入以下公式绘制图示。横轴为浓度，纵轴为与散射强度Kc/R（θ）相等的倒数。此方法也被称为Debye图示法。

籍由往零浓度（C=0）外插的倒数求取分子量Mw，并以此初期梯度可求得**维里系数A2。

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分子量较大的分子，散射强度会因角度而不同。

分子量籍由测量不同散射角度（θ）的散射强度不但可提高测精度，也可获得分子扩散指标值的回转半径。

以固定角度进行测量时，只要输入推测的回转半径，角度将自行补正，可测量更高精度的分子量。

图片7.png

**维里系数

表示溶媒中分子间的排斥与吸引程度，更易于观察溶剂分子的相容性与结晶化现象。

●A2为正时，代表溶剂相容性高，分子间排斥力强，更加稳定。

●A2为负时，代表溶剂相容性低，分子间吸引力强，易产生凝集。

●A2=0时，代表溶剂为理想溶剂，此时温度被称为理想温度。排斥与吸引力处于平衡状态，易产生结晶化。

式样

测量原理	粒径	动态光散射法（光子相关法）
	ZETA电位	电泳光散射法（激光多普勒法）
	分子量	静态光散射动法
光学系统	粒径	零差光学系
	ZETA电位	外差光学系
	分子量	零差光学系
光源	高功率半导体激光器
探测器	高灵敏度APD
样品池	ZETA电位: 标准池、高浓度样品池、微量可抛式池
	粒径/分子量: 方形池
温度	0~90度（带梯度功能）
电源	220V±10%, 50/60Hz, 250VA
尺寸(WDH)	380(W) X600(D) X210(H)
重量	约22Kg