日本SANKO山高电磁模拟薄膜测厚仪 SM-Pen 北崎国际贸易（北京）有限公司

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简单介绍：

笔式探头甚至可以测量小零件（定制）这是一种笔式探头，**装有超细磁极。现在可以测量小零件和密闭空间。

详情介绍：

日本SANKO山高电磁模拟薄膜测厚仪SM-Pen

测量范围

0~300微米 0~5毫米（**排刻度）

测量精度

在均匀表面上± 2 μm 或指示值的 ±5%

权力

AAA 电池（1.5V）×6

工作温度

0~40°C（无冷凝）

机身尺寸

105（宽）×48（高）×165（深）毫米

重量

500克

附属品

标准木板、表盘盖、储物盒

探针

笔型φ11×130mm，CVD磁极：φ2.6×4.5mm

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产品名称：日本SANKO山高电磁模拟薄膜测厚仪