日本SANKO山高多电磁模拟薄膜测厚仪 SL-200E 北崎国际贸易（北京）有限公司

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简单介绍：

高性能小型双极型：可在内部测量小地方（定制生产）该探头体积小，适用于测量局部涂层的厚度，例如从平面和曲面到圆钢、零件、复杂几何形状和内部。

详情介绍：

日本SANKO山高多电磁模拟薄膜测厚仪SL-200E

测量范围

I.：0~50微米 II.：0~500微米

测量精度

在均匀表面上± 1 μm 或指示值的 ±2%

权力

直流：AA 电池（1.5V）×8
交流：100V，50/60Hz（带交流适配器）

工作温度

0~40°C（无冷凝）

机身尺寸

190（宽）×90（高）×120（深）毫米

重量

1.8公斤

附属品

标准木板，交流适配器，肩套

探针

2极型，磁极直径φ2.5，磁极间距5mm 尺寸
：10（宽）×17（高）×21（深）毫米

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产品名称：日本SANKO山高多电磁模拟薄膜测厚仪