-
JASCO日本分光 便携式分光光度计
便携式分光光度计 MV-3000 系列可以每 5 毫秒测量一次光谱。通过高速测量光谱，可以监控生产线等，并通过映射测量减少产品检查所需的时间。由于它采用光纤和不具有衍射光栅驱动功能的结构，因此体积小且易于操作，可用于现场测量等广泛的应用。
查看详情
-
JASCO日本分光 便携式分光光度计
便携式分光光度计 MV-3000 系列可以每 5 毫秒测量一次光谱。通过高速测量光谱，可以监控生产线等，并通过映射测量减少产品检查所需的时间。由于它采用光纤和不具有衍射光栅驱动功能的结构，因此体积小且易于操作，可用于现场测量等广泛的应用。
查看详情
-
JASCO日本分光 偏光膜评价系统
偏光膜是液晶显示器 (LCD) 的一部分，随着 LCD 应用的扩大和规模的扩大，偏光膜仍然是一种需求量很大的光学材料。此外，液晶显示器的质量不断提高，在偏光膜的质量检测过程中，光学特性和色彩设计评估需要更高的精度。
VAP-8010是一个配备了高通量光学系统、专为处理而设计的样品室以及用于各种计算的专用程序的系统。
查看详情
-
JASCO日本分光 显微镜紫外分光光度计
*小直径为 10 µm，可在紫外-可见和近红外区域进行透射和反射测量。
它可应用于广泛的领域，包括半导体器件和光学元件等工业产品的评估以及功能材料的研究和开发。
查看详情
-
JASCO日本分光 显微镜紫外分光光度计
*小直径为 10 µm，可在紫外-可见和近红外区域进行透射和反射测量。
它可应用于广泛的领域，包括半导体器件和光学元件等工业产品的评估以及功能材料的研究和开发。
查看详情
-
JASCO日本分光 显微镜紫外分光光度计
*小直径为 10 µm，可在紫外-可见和近红外区域进行透射和反射测量。
它可应用于广泛的领域，包括半导体器件和光学元件等工业产品的评估以及功能材料的研究和开发。
查看详情
-
JASCO日本分光可视近赤外分光光度计
V-780：配备InGaAs探测器的紫外-可见近红外高灵敏度/高分辨率测量模型
查看详情
-
JASCO日本分光可视近赤外分光光度计
V-770：覆盖紫外-可见和近红外区域的宽波长范围
测量波长范围：190nm至2700nm（可通过选件扩展至~3200nm）
具有单单色仪的高效、明亮的光学系统
查看详情
