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代理KYOWA共和KFV氢气环境用箔式应变片

日期:2026-11-10 11:18
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摘要:可在高压氢气环境下稳定测量应变的箔式应变片

可在高压氢气环境下稳定测量应变的箔式应变片

特点

传统箔式应变片的金属电阻箔由于受到氢气的影响, 电阻值会发生变化,因此无法进行稳定的测量。
而KFV应变片因氢气而引起的电阻变化微小,可实现稳定测量。

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