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OTSUKA大塚线扫描膜厚仪-离线型

日期:2026-09-17 11:56
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摘要:OTSUKA大塚线扫描膜厚仪-离线型

  特点

● **高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

● 硬件&软件均为**设计

● 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

● 实现高精度测量(已取得**)

● 实现高速测量(500万点以上/分)

   

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