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OTSUKA大塚Load Port对应膜厚测量系统 GS-300

日期:2026-09-17 11:57
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摘要:Load Port对应膜厚测量系统 GS-300

  特点

● Φ支持到300mmEFM单元备用端口的集成

● 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐

● 支持半导体工艺的高吞吐量要求

● 支持槽口对齐功能

● 小尺寸规格

● 高精度自动校准单元


  测量示例

TSV嵌入式图形晶圆研磨后的硅厚度

晶圆厚度Φ300mm尺寸

京公网安备 11030102010384号