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OTSUKA大塚 膜厚测量系统FE-3700

日期:2026-09-18 21:28
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摘要: 特殊长度 可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外,它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。 用法 LCD ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass TFT SiN / a-Si / 玻璃 有机EL 有机EL / ITO / 玻璃 PDP 介电层/玻璃

特殊长度

可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外,它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。

     

用法

LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass

TFT
SiN / a-Si / 玻璃

有机EL
有机EL / ITO / 玻璃

PDP
介电层/玻璃


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