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  • 产品名称:日本OTSUKA大塚 椭偏仪

  • 产品型号:FE-5000
  • 产品厂商:OTSUKA大塚
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简单介绍:
可在紫外和可见(250至800nm)波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测量,可详细分析...
详情介绍:

特点

● 可在紫外和可见(250至800nm)波长区域中测量椭圆参数

● 可分析纳米级多层薄膜的厚度

● 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱

● 通过可变反射角测量,可详细分析薄膜

● 通过创建光学常数数据库和追加菜单注册功能,增强操作便利性

● 通过层膜贴合分析的光学常数测量可控制膜厚度/膜质量


测量项目

测量椭圆参数(TANψ,COSΔ)

光学常数(n:折射率,k:消光系数)分析

薄膜厚度分析


用途

半导体晶圆
栅氧化膜,氮化膜
SiO2,SixOy,SiN,SiON,SiNx,Al2O3,SiNxOy,poly-Si,ZnSe,BPSG,TiN
光学常数(波长色散)

复合半导体
AlxGa(1-x)多层膜、非晶硅

FPD
取向膜
等离子显示器用ITO、MgO等

各种新材料
DLC(类金刚石碳)、超导薄膜、磁头薄膜

光学薄膜
TiO2,SiO2多层膜、防反射膜、反射膜

光刻领域
g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)和KrF(248nm)等波长的n、k评估

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