产品名称：ADCMT 爱德万测试设备严苛工况

动态随机存取存储器（DRAM）是个人计算机和工作站常用的通用型存储器。除此之外，DRAM还广泛应用于服务器和客户端，并大量用于图形处理与移动设备应用。DRAM无处不在，其技术变革与演进速度相当迅猛；不同用途的DRAM，其速度与功能存在很大差异。用于图形显示的超高速GDDR5-SDRAM芯片需要时钟训练和CRC（循环冗余校验）等功能，以确保其可靠性与高速性能表现。与此同时，用于服务器和客户端的DDR4-SDRAM将很快实现两倍于主流DDR3-SDRAM的带宽，并具备与GDDR5相当的功能。在移动应用和图形显示领域，x32和x64的总线宽度已成为主流，而具备256位宽接口的Wide I/O DRAM预计将在近期实现标准化。

从*终应用的多样化需求来看，DRAM技术的发展需要满足支持每一代新器件和新应用的理想测试解决方案，同时成本控制要求也催生出可覆盖研发到量产全流程、支持多种DRAM类型的统一平台化解决方案。

超高精度、分辨率拉满
电压精度可达 ±0.015%，电流 ±0.02%；分辨率到10nV（纳伏）、100fA（飞安）、1μΩ（微欧），5.5~8.5 位显示，微小信号也能精准捕捉。
超低噪声、长期稳定性极强
输出噪声低至 μV 级，漂移控制在5ppm / 年；自带自校准，减少温漂、时漂，长期不用频繁校准，数据一致性好。
源测一体、双极性输出
既是电压 / 电流源、又是监测表；支持双向吸 / 灌电流，可正负极性输出，适合半导体、传感器、器件 IV 特性测试。
微弱信号测量能力突出
能测1fA 超微电流、10¹⁷Ω 超高阻，低功耗电阻测量（100μA 小电流），避免元件自热误差，适配热敏、光敏、绝缘材料。
高速采样 + 并行 / 多通道测量
*高 20 万次 / 秒采样；双 A/D 双通道同步测，支持多机联动、并行测试，大幅提升产线 / 研发测试效率。
接口齐全、适配自动化 ATE 集成
标配 USB/LAN、可选 GPIB，支持 SCPI 指令；可直接对接 PLC、单片机、测试系统，适合半导体、电子元件产线自动化。
宽量程、多功能覆盖全场景
电压 μV~1000V、电流 fA~10A、电阻 μΩ~10¹⁷Ω；集成扫描、脉冲（*小 25μs）、序列测试、热电偶校准等专业功能。
抗干扰强、适配严苛工况
屏蔽设计、抗电磁 / 杂光干扰；宽温（-10℃~+60℃）、防尘结构，实验室、工厂产线、现场巡检都稳定。
专业细分、垂直行业适配
覆盖半导体器件、光器件（光功率计）、传感器、电池、材料分析；针对微小元件、精密器件做专属优化，场景匹配度高。
无触点长寿命、免维护
纯电子测量、无机械磨损；可靠性高、故障率低，长期稳定运行，降低维护成本、延长设备寿命。