APPLICS阿普里克斯薄膜厚度计无损检测 NSM-RMD 北崎国际贸易（北京）有限公司

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简单介绍：

光学非接触无损检测，不伤超薄基材采用白光光谱干涉原理，探头无物理施压，PET 光学膜、背胶、离型膜、软胶薄膜无压痕、无划伤，极薄镀膜、易碎柔性材料全程无损测量。

详情介绍：

1、光学非接触无损检测，不伤超薄基材

采用白光光谱干涉原理，探头无物理施压，PET 光学膜、背胶、离型膜、软胶薄膜无压痕、无划伤，极薄镀膜、易碎柔性材料全程无损测量。

分辨率0.01μm（10nm），测量区间 10nm～300μm，兼顾纳米镀膜与厚层复合胶，光学、电子、胶带行业全规格通用。

一键拆分3～6 层复合薄膜（基材 + 镀层 + 粘接胶 + 保护层），不用人工剥层拆分，复合功能膜检测效率提升 70% 以上。

预存上百种塑胶、镀膜、光学胶折射率参数，更换物料直接调取配方，省去反复标定调试，换产省时省力。

单点快速取样，适配来料抽检、产线定点巡检，大批量来料检测大幅缩短工时，适配车间量产质检节奏。

光学光路做防尘抗干扰优化，耐受车间粉尘、油品飞溅、设备震动，冲压保护膜、涂布卷材现场测量数据不漂移。

全触屏人机界面，可存储 99 组产品工艺参数，断电数据**保存，切换产品一键调取参数，无需重复设置。

实时自动统计*大值、*小值、平均值、极差、CPK 值，可导出 Excel/SPC 质检报告，满足品质追溯与体系审核要求。

标配 RS232+USB，**机型带网口，测量数据实时上传工厂系统，支持在线联动涂布机微调工艺厚度

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