SANKO三高荧光X射线膜厚计 EX-851 北崎国际贸易（北京）有限公司

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简单介绍：

SANKO三高荧光X射线膜厚计 EX-851

详情介绍：

SANKO三高荧光X射线膜厚计 EX-851

特点
测量部监控画面显示，以可视化方式呈现被测物的镀层附着分布
采用Windows®软件，报告生成功能更加完善
注意：使用前需向所属劳动基准监督署提交申报。

X射线源

油浸式小型微小焦点X射线管
靶材：钨
管电压：50kV/管电流可调

照射方式

上方垂直照射方式

检测器

比例计数管

测量可能范围

原子序数22～24：0.02～约20㎛
原子序数25～40：0.02～约30㎛
原子序数41～51：0.02～约70㎛
原子序数52～83：0.01～约10㎛

样品观察

CCD彩色相机（自动对焦）

表格尺寸

200×200

被测物*大高度

90毫米

本体尺寸

740（宽）×530（深）×660（高）

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产品名称：SANKO三高 荧光X射线膜厚计