SANKO三高电磁式模拟膜厚计 SL-200E 北崎国际贸易（北京）有限公司

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简单介绍：

SANKO三高电磁式模拟膜厚计 SL-200E

详情介绍：

SANKO三高电磁式模拟膜厚计 SL-200E

特点
探头小巧，适用于测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状以及内侧等局部区域的膜厚。

测量范围

Ⅰ：0～50μm　Ⅱ：0～500μm

测量精度

测量结果均匀一致，精度为±1μm或指示值的±2％

电源

直流：1.5V 单3号干电池×8
交流：100V、50/60Hz（使用交流适配器）

使用温度

0～40℃（不结露）

机身尺寸

190（宽）×90（高）×120（深）毫米

重量

1.8千克

附件

标准厚板、AC适配器、肩带盒

探头

2极式、磁极直径φ2.5、极间5mm
尺寸：10（宽）×17（高）×21（深）毫米

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产品名称：SANKO三高 电磁式模拟膜厚计