产品名称：NAPSON纳普森手持式电阻测量仪

产品特性和功能

1分单点测量

非接触式非接触式

只需与方便的探头进行简单接触，即可进行电阻测量。

• 在电阻率和薄层电阻测量模式之间轻松切换
• 通过 JOG 刻度盘轻松设置测量条件
• 带连接器连接的电阻测量探头可互换，电阻范围很广（*多可使用 2 个电阻探头 + PN 判断探头）

测量目标

• 半导体和太阳能电池材料（硅、多晶硅、碳化硅等）
• 新型功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
• 导电薄膜（金属、ITO等）
• 化合物半导体（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
• 其他（*请联系我们）

目标大小

无论 Mr/Ms 的尺寸或形状如何，都可以测量（但是，大于 20 毫米的φ并且具有平坦的表面）

测量范围

[电阻率] 1m~200Ω・cm
（*所有探头类型的总量程/500um厚度）
[片状电阻] 10m~3kΩ/sq
（*所有探头类型的总量程）

*每种探头类型的测量范围请参考以下内容。
（1）低：0.01~0.5Ω/□（0.001~0.05Ω·cm）
（2）中：0.5~10Ω/□（0.05~0.5Ω·cm）
（3）高：10~1,000Ω/□（0.5~60Ω·cm）
（4）S-高：1,000~3,000Ω/ □（60~200Ω·cm）
（5）太阳能片：5~500Ω/□（0.2~15Ω·cm）

产品尺寸

• 机身：W255×D275×H95mm，4kg
• 探头部分：20mmΦ×80mm